[R&D 프로젝트 공고] 직경 20um 이상 금속 입자 검사 장비 개발

매칭 진행 중

654339

직경 20um 이상 금속 입자 검사 장비 개발

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기업 용역

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대학 연구실

을 찾는 공고입니다.

본 과제는 비파괴검사 방식을 활용하여 직경 20um 이상의 비자성 및 자성 금속 입자를 초당 100미터 이상의 속도로 검출할 수 있는 검사 방법을 개발하고, 이를 기반으로 한 검사 장비의 설계 및 성능 검증을 목표로 합니다. 금속 입자의 자성 여부에 관계없이 안정적인 검출이 가능한 센서 구조와 검사 원리를 도출하고, 개념 검증을 거쳐 양산 적용이 가능한 검사 장비 기술을 확보하고자 합니다.

게시자 유형

기업

핵심 키워드

metal particle

magnetic

non-magnetic

과제 규모

협의 가능

공고 마감일

미정

기업 소개

기업 소개 및 사업 영역

해당 기업은 통신 및 장비 제조업 분야에서 다양한 가전 및 산업용 장비를 제공하는 기업으로, 차량용 부품, 반도체 및 디스플레이 장비 등에서 글로벌 경쟁력을 보유하고 있습니다. 축적된 검사 장비 개발 경험을 바탕으로 스마트팩토리 및 고신뢰 산업용 검사 솔루션을 주요 사업 영역으로 하고 있습니다.

대표 제품 및 서비스

- 가전 및 차량용 부품 검사 장비 - 스마트팩토리용 자동 검사 시스템 - 디스플레이 및 2차전지 공정 장비

정부과제 / 산학협력 경험

- 기업 자체 조달 기반 검사 장비 개발 용역 과제 수행 경험 - 산업용 비파괴검사 장비 및 자동화 설비 개발 경험 - 외부 연구기관과의 기술 검증 및 공동 연구 수행 경험

과제 개요

연구 희망 주제

본 연구는 비자성 및 자성 금속 입자를 동시에 검출할 수 있는 비파괴 검사 원리와 센서 구조 개발을 핵심 주제로 합니다. 고속 이동 환경에서도 미세 금속 입자를 안정적으로 검출할 수 있는 검사 방법과 장비 설계를 목표로 합니다.

연구 진행 배경

가전, 차량용 부품, 디스플레이 및 2차전지 장비 분야에서는 미세 금속 이물에 의한 품질 저하 및 불량 리스크가 지속적으로 증가하고 있습니다. 기존 검사 방식은 검출 속도나 자성 물질에 대한 한계가 존재하여, 고속 공정 환경에서도 적용 가능한 신뢰성 높은 비파괴 검사 기술의 필요성이 대두되고 있습니다. 이에 따라 기업은 기존 검사 장비 개발 경험을 기반으로 차세대 금속 입자 검사 기술을 확보하고자 본 연구를 기획하였습니다.

연구 과제 개요

1. 금속 입자 비파괴 검사 원리 도출 및 개념 검증 - 자성/비자성 금속 입자 검출 메커니즘 분석 - 검사 가능 원리 도출 및 feasibility test 수행 2. 센서 구조 설계 및 시제품 개발 - 고속 검출이 가능한 센서 구조 설계 - 직경 20um 이상 금속 입자 검출용 시제품 제작 3. 성능 평가 및 양산화 검증 - 평가 시스템 개발 및 검출 성능 검증 - 양산 장비 적용을 위한 성능 기준 도출

세부 목표

- 직경 20um 이상 비자성/자성 금속 입자 검사 방법 도출 - 100m/min 이상 고속 환경에서의 검출 성능 확보 - 센서 구조 설계 및 시제품 제작 - 평가 시스템 구축 및 성능 검증